單片機解密應(yīng)掌握的幾個基本技巧。

單片機解密應(yīng)該掌握一些基本技能:

第一.如何提高C語言編程代碼的效率

單片機使用C語言程序設(shè)計的必然趨勢是單片機的發(fā)展和應(yīng)用。如果你使用C編程,實現(xiàn)最高的效率,最好熟悉C編譯器的使用。先測試后每一個C語言編制相應(yīng)的匯編語言,這樣你就可以清楚的知道效率。當編程在不久的將來,我收集了最有效的語句。

每一個C編譯器會有一定的差異,所以編譯器效率也會有所不同,優(yōu)秀的嵌入式系統(tǒng)C編譯器代碼長度和執(zhí)行時間長于相同的函數(shù)用匯編語言編寫5 - 20%的水平。對于復(fù)雜的和項目開發(fā)時間緊,可以使用C語言,但前提是需要你的單片機系統(tǒng)C和C編譯器很熟悉,特別要注意C編譯器系統(tǒng)可以支持的數(shù)據(jù)類型和算法。而C語言是最常見的一種高級語言,但由于不同的單片機C語言編譯系統(tǒng)制造商是不同的,尤其是在一些特殊功能模塊的操作。如果你不了解這些特性,然后調(diào)試問題會很多,但是執(zhí)行效率低于匯編語言。

第二,如何減少bug的程序?

對于如何減少程序錯誤,我們給出一些建議,使管理應(yīng)考慮操作系統(tǒng)的參數(shù)是:

1。物理參數(shù)。這些參數(shù)主要是系統(tǒng)的輸入?yún)?shù),包括勵磁參數(shù)、操作參數(shù)和流程收集和處理結(jié)束的結(jié)果參數(shù)。合理設(shè)置這些界限,超越邊界參數(shù)異常激勵或異常響應(yīng)錯誤處理。

2。資源參數(shù)。這些參數(shù)主要電路、系統(tǒng)的組件和功能單位的資源,如內(nèi)存容量,存儲單元的長度,堆棧深度。在編程中,參數(shù)不允許利用資源。

3所示。應(yīng)用程序的參數(shù)。這些參數(shù)常常為一些單片機的應(yīng)用,功能單元。如擦E2PROM芯片的數(shù)量,和應(yīng)用程序參數(shù),如數(shù)據(jù)存儲時間限制。

4所示。工藝參數(shù)。指的是有序的系統(tǒng)運行參數(shù)的變化。

第三,如何解決單片機的抗干擾問題

最有效的方式是為了防止干擾的干擾來源,分區(qū)路徑,但往往很難做,所以我只能看見單片機抗干擾能力不夠強。SCM干擾是最常見的一種現(xiàn)象重置;至于程序跑飛,但是也可以使用軟件陷阱和看門狗復(fù)位程序回到狀態(tài),所以最重要的事情是處理軟件抗干擾復(fù)位狀態(tài)。通用單片將有一些標志寄存器,可以用來判斷復(fù)位的原因,你也可以在RAM中埋藏的符號。每次程序復(fù)位,通過判斷標志,可以確定不同的復(fù)位的原因;也可以根據(jù)不同的國旗直接跳轉(zhuǎn)到相應(yīng)的應(yīng)用程序。這樣可以使程序運行有連續(xù)性,也不會察覺到當用戶在使用過程中被重置了。

第四,如何測試單片機系統(tǒng)的可靠性

有人想知道用什么方法來測試單片機系統(tǒng)的可靠性,當單片機系統(tǒng)設(shè)計,對不同的單片機系統(tǒng)產(chǎn)品有不同的測試項目和方法,但是有些人必須測試:

1。單片機的改進軟件功能測試。這是寫給所有單片機系統(tǒng)功能測試,測試軟件編寫正確完成。

2。在電力、電力測試。用戶將不可避免地遇到使用電力和電力,可以進行多個開關(guān)電源,單片機系統(tǒng)的可靠性測試。

3所示。老化試驗。長時間工作的情況下,測試單片機系統(tǒng)的可靠性。如果有必要可以放置在高溫、高壓和強烈的電磁干擾環(huán)境測試。

4、防靜電和EFT測試?？梢允褂酶鞣N各樣的干擾模擬器來測試單片機系統(tǒng)的可靠性。例如,使用靜電防靜電ESD模擬器測試微機系統(tǒng)能力;利用浪涌噪聲模擬器快脈沖抗干擾EFT測試等等。

也可以模擬人類使用,損壞的可能性。例如在身體或衣服布料摩擦故意單片機系統(tǒng)接入端口,抗靜電能力的測試。使用大功率電鉆在單片機系統(tǒng)為測試抗電磁干擾,等等。