一、電性測試
　　在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中，因瑕疵而造成成本的損失，在各個(gè)階段都有不同的程度，越早發(fā)現(xiàn)則補(bǔ)救的成本越低。電性測試對于PCB業(yè)者而言，為的就是及早發(fā)現(xiàn)線路功能缺陷的板子。測試條件及測試方法主要包括測試資料來源與格式、測試條件，如電壓、電流、絕緣及連通性、設(shè)備制作方式與選點(diǎn)、測試章、修補(bǔ)規(guī)格。
　　在PCB的制造過程中，必須作測試的三個(gè)階段是內(nèi)層蝕刻后、外層線路蝕刻后、成品。
二、電測的方法與設(shè)備
　　電性測試的方法有：專用型、泛用型、飛針型、非接觸電子束、導(dǎo)電布、電容式及刷測，其中最常使用的設(shè)備有三種，分別是專用測試機(jī)、泛用測試機(jī)及飛針測試機(jī)。為了更了解各種設(shè)備的功能，以下將分別比較三種主要設(shè)備的特性。
　　1、專用型測試
　　專用型的測試之所以為專用型，主要是因?yàn)槠渌褂玫闹尉撸瑑H適用于一種料號，不同料號的板子就無法測試，而且無法回收使用。
　　2、泛用型測試
　　泛用型測試的基本原理是PCB線路的版面是依據(jù)格子來設(shè)計(jì)，孔位置以一G10的基材作Mask，只有在孔的位置探針才能穿過Mask進(jìn)行電測，因此治具的制作簡易而快速，而且探針可重復(fù)使用。泛用型測試點(diǎn)數(shù)通常在1萬點(diǎn)以上，測試密度在或是的測試稱為on-grid測試，屬于off-grid測試，其治具就必須要特殊設(shè)計(jì)，通常泛用型測試的測試密度可達(dá) QFP。
　　3、飛針測試
　　飛針測試的原理很簡單，僅僅需要兩根探針作x、y、z的移動(dòng)來逐一測試各線路的兩個(gè)端點(diǎn)，因此不需要另外制作昂貴的治具。但是由于是端點(diǎn)測試，因此測速極慢。
三、技術(shù)比較

　　飛針測試是目前最適合使用于小量產(chǎn)及樣品的電性測試設(shè)備，但是若要運(yùn)用于中大量產(chǎn)時(shí)，則由于測速慢以及設(shè)備價(jià)格昂貴，將會(huì)使得測試成本大幅提高，而泛用型及專用型無論是用于何種層級的板子，只要產(chǎn)量達(dá)到一定的數(shù)量，測試成本均可達(dá)到規(guī)模經(jīng)濟(jì)的標(biāo)準(zhǔn)，而且約只占售價(jià)的2~4%。但是隨著電子產(chǎn)品的變化速度加快，使得單一電路設(shè)計(jì)版本的產(chǎn)品生命周期變短。

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